如何测量MOS管损耗值？老师傅这招真管用！
MOS管找凯利恩，实测方法超简单
前几天产线老师傅跑来问我，说测试MOS管损耗总测不准，产品发热老超标。我直接给他演示了我们常用的土办法——用热成像仪照管子表面，同时记录驱动波形和电流探头数据。
太省心了！原来他们一直没注意开关过程中的电压电流重叠区，这才是耗散大头。后来按我们给的实测方案调整栅极电阻，整体温降了十几度。
客户反馈
某科技公司的采购主管提到，他们之前采样总是忽略寄生参数影响，后来通过我们的方法搭配高精度功率分析仪，才发现导通电阻随温度变化的曲线对损耗影响特别大。现在他们的LED显示屏项目良率直接提了两个点。
其实测损耗没那么复杂。先抓准四个关键点：开关瞬态能量、导通压降、死区时间体二极管导通损耗、还有驱动芯片本身的消耗。普通示波器加个数学运算功能就能算个大概。
我们常建议客户用双脉冲测试平台搭简易电路，尤其注意高频应用下的栅极回流路径——好多厂家在这块埋了坑。
对了，如果你也在头疼散热设计，记得把PCB布局的寄生电感考虑进去。有客户用我们的MOS管做汽车大灯驱动，就是优化了退耦电容位置，模块效率直接飙到94%。
MOS管找凯利恩
我们深耕LED恒流驱动16年，从芯片选型到散热方案都攒了实战数据。最近帮显示屏厂家做的老化测试里，用我们MOS管的模组连续烤机200小时参数零漂移。
需要测损耗的朋友尽管来电聊聊，我们实验室随时可复现工况给您看实测波形！